公司自主研发PCI弱吸收－共光路干涉弱吸收测量仪，PCI弱吸收测量精度高，单次测量可实现体和面吸收分开，测量速度快并可实现面扫描，可测量不同入射角的膜吸收。

(资料图片)

特点

精度高：1 ppm

一次测量可以区分体、面吸收

扫描速度快（几分钟）

对样品规格要求不高

操作方便、简单

应用

光学薄膜

光学晶体材料

光学镜片

性能

测量晶体（LBO、YVO4、KTP...）或光学产品（K9、BK7、UVFS...）内部材料的弱吸收（体吸收）

测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收